杂志简介:《中国仪器仪表》杂志经新闻出版总署批准,自1981年创刊,国内刊号为11-3359/TH,是一本综合性较强的工业期刊。该刊是一份月刊,致力于发表工业领域的高质量原创研究成果、综述及快报。主要栏目:信息与动态、本期主题·工业控制网络、综述、PI-China·专栏、医疗装备·专栏、应用研究、技术探讨
刊期:2006年第09期
在刚刚结束的9月13~16日举办的第十七届多国仪器仪表展览会上,ABB公司全新推出了Navigator600硅分析仪。随着Navigator 600分析仪的推出,ABB已经降低了二氧化硅的监测成本,而且提供了许多额外的业务和操作便利。
刊期:2006年第09期
2005年,中国DCS市场整体业务继续保持稳定增长趋势,总体规模达到62亿元,增长率保持较高水平,比2004年增长19.2%。
作者:李颖宏; 袁孝纯; 田红芳 刊期:2006年第09期
本文提出了一种基于智能通讯芯片SPC3实现的Profibus-DP从站系统接口电路的设计,介绍了系统的软、硬件实现过程。并可将具有RS 232串口的设备连接到Profibus-DP网络,实现Profibus-DP的透明数据传输。该方案已通过与现场总线Profibus网络的连接运行,验证可行。
刊期:2006年第09期
Fluke Corporation(福禄克公司)日前了Fluke 9640A射频参考标准源。该款产品能够在简化射频校准工作的同时提高产出率、降低成本。
作者:郭自勇; 周有庆; 刘宏超; 郭利敏 刊期:2006年第09期
本文介绍了100kVA并联型有源电力滤波器系统的构成、工作原理,阐述了有源电力滤波器的电流检测和电流控制方法,分析并讨论了主电路参数的选择方法。在所研制的100kVA有源电力滤波器系统上进行了谐波补偿实验,取得了满意的实验结果。
作者:李凯扬; 王钊 刊期:2006年第09期
本文阐述了低频超声经皮给药仪的设计,介绍了该给药系统作用的原理以及系统的结构,提出了具体的设计参数及相应的电路。
作者:孙士平; 毛宗源 刊期:2006年第09期
文中介绍了微波法测量建筑砂石含水量测量系统。该系统由于引入了正交锁定放大器和本底噪声扣除的测量方法,使测量系统避开了因器件的不稳定性、电路的静态漂移、环境干扰噪声和器件噪声等对测量精度和稳定性带来的影响,实验表明测量精度和稳定性优于传统测量系统。
作者:曾唯; 林麒 刊期:2006年第09期
本文以美国ADI公司生产的±5g双轴模拟输出加速度计ADXL320为例,介绍了MEMS微加速度计的工作原理及其输出系数标定试验,并对其试验结果进行了数据处理和分析。
作者:钱光耀; 赵光兴; 韩华明 刊期:2006年第09期
本文针对最小二乘法、分段线性化、神经网络等拟合方法的不足,提出解决浓度传感器输出特性拟合和在线标定问题的混合遗传算法,实验验证了其有效性。当环境条件发生变化时,只要测量几组数据对,该方法可自动重新训练网络,获得新的多项式系数,实现浓度传感器的在线动态标定。
作者:孙艳玲 刊期:2006年第09期
本文分析了传统电感接触式测量仪的系统误差,提出了一种基于垂直位移扫描工作的表面轮廓综合测量仪的整体设计方案,克服了接触式测量仪的大量程和高精度之间的矛盾,给出了实际测量结果。
作者:陈旭武; 皮大能 刊期:2006年第09期
三相电路作为实际工程中整个电力系统的驱动部分,在实际应用中有其特殊的意义,因此对其进行正确的利用和测试尤为重要。本文从测试入手,利用PIC12C508单片机实现了对三相电源相序测试。
作者:江高平; 符影杰 刊期:2006年第09期
基于嵌入式系统的应用研究已成为新的热点。本文设计的一款以ARM为微处理器和CPLD为核心的多通道嵌入式仪表,运用液晶图形化显示技术,大容量信息存储和管理技术,测量和控制数据处理技术,网络通信技术等,结合工业过程控制的实际需要,移植了UC/OS-Ⅱ实时操作系统,实现了仪表的智能化、信息化及网络化,完成了多通道多参数的测控。
刊期:2006年第09期
“优先发展现代服务业,优先发展先进制造业”是上海市新一轮发展的战略定位。光仪电作为先进制造业的高端,产业关联度大,上海在这一领域又具有雄厚的综合资源优势。为此,在新一轮发展中,上海决定将光仪电作为重点产业积极加以扶持发展。
作者:曹建军; 代建华 刊期:2006年第09期
安阳钢铁股份有限公司焦化厂15万吨焦油加工控制系统,采用冗余西门子S7-400控制系统。该系统由相互可替换的操作站、强大的关系型分布式数据库支撑平台、高可靠大容量冗余的过程控制站、PROFIBUS过程现场总线技术的分散型I/O等子系统组成,提高了系统的控制效果、产品产量与质量。
作者:于彭波 刊期:2006年第09期
本文对电测仪表工作的不稳定性进行分析,阐述了影响电测仪表工作稳定性的原因,提出了解决和预防方法,为提高电测仪表的稳定性提供依据。