摘要:目的:量子探测效率(DQE)是描述数字X射线平板探测器的图像质量和剂量利用效率的综合指标。在以往的研究和实践中,我们所做的努力是研发了一种实验性的统一方法来测定平板探测器的量子探测效率,包括IEC62220-1系列标准。然而,评价数字X射线成像系统的DQE才更有实际临床意义。本论文通过对系统DQE (SDQE)的测试,比较SDQE与其描述的平板探测器DQE的差异,讨论了数值差异的原因以及提高SDQE的方法。
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
热门期刊服务
相关文章
影响因子:--
期刊级别:部级期刊
发行周期:半月刊
期刊在线咨询,1-3天快速下单!
查看更多>
超1000杂志,价格优惠,正版保障!
一站式期刊推荐服务,客服一对一跟踪服务!