杂志简介:《电子产品可靠性与环境试验》杂志经新闻出版总署批准,自1980年创刊,国内刊号为44-1412/TN,是一本综合性较强的电子期刊。该刊是一份双月刊,致力于发表电子领域的高质量原创研究成果、综述及快报。主要栏目:自动化技术及设备、计算机科学与技术、计量与测试技术、可靠性与环境适应性理论研究、可靠性与环境试验技术及评价、仿真建模与分析、软件...
作者:马怀祖 刊期:2005年第B12期
从10个方面简要地回顾了五所半个世纪以来技术发展的道路,真实、全面地反映了五所在电子产品质量事业中所进行的开创性工作和不懈的努力。不仅可以充分了解五所的技术发展历史,也可以对我国电子产品质量事业的发展过程有一个大致的概念。
刊期:2005年第B12期
2006’第五届电子产品防护技术研讨会定于2006年05月21-25日在河北省承德市魁福园宾馆召开,特向广大从事电子产品防护技术工作的工艺设计者、结构设计者、材料研究者、试验分析等研究者征集学术论文。本次会议出版论文集(全文)。征文内容如下:
刊期:2005年第B12期
中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会定于2006年10月21-25日在福建省武夷山市大禹山庄召开,特向广大可靠性工程技术工作者征集学术论文。本次会议出版论文集(全文)。
刊期:2005年第B12期
简要地回顾了信息产业部电子第五研究所从事环境试验研究的历史、能力和成果应用。
作者:廖国栋; 吴国华; 苏少燕 刊期:2005年第B12期
不同的环境条件对金属材料有不同的腐蚀速度。针对金属材料在西沙、海南、广州的曝露试验结果,比较、分析了垒属材料在不同的天然大气环境条件下的腐蚀速度及其与人工加速试验腐蚀速度的相互关系。
作者:王忠 刊期:2005年第B12期
太阳辐射试验用于评价阳光辐射对产品所产生的热效应或光化学效应。在目前已知的辐射灯源中,氙弧灯输出的光谱最接近自然太阳光。进行太阳辐射试验时,应根据产品寿命期的预期环境条件、产品本身的结构、材料特性和用途来确定辐射强度、温度、试验持续时间等试验参数和选择试验程序。应确保太阳辐射试验所用的装置满足试验的要求。在试验时应注...
作者:李彰培; 张铮 刊期:2005年第B12期
简要地叙述了电子装备材料沙漠天然环境试验的重要性。介绍了试验样品选择、制作方法,以及电子装备常用材料沙漠天然环境的试验及评价方法,给出塑料、涂料和电线电缆样品曝露12个月的试验结果。
作者:吴国华; 廖国栋; 苏少燕 刊期:2005年第B12期
西沙是我国南海典型的高温、高湿、高盐雾地区,以西沙群岛中的永兴岛为例,简述南海西沙的气候特点以及电子产品在西沙的试验价值。
作者:刘建明 刊期:2005年第B12期
介绍了“四综合”系统中温度、湿度、高度3个主要试验应力的控制原理和控制方法以及试验剖面的处理。对这3个试验应力采用了PID加脉宽调制控制、PID加模糊控制、分组控制等方法;通过建立人机控制界面来进试验剖面的处理,并依据试验剖面编制控制程序,达到实时控制的目的。由于“四综合”系统的控制参数比较多,控制的动态过程比较复杂,因此,...
刊期:2005年第B12期
刊期:2005年第B12期
综述了数据中心25年来,在科研和技术服务方面所取得的成果,拥有的技术实力和服务手段,数据中心“十一五”期间在RMS技术与信息服务的发展。
作者:潘勇; 莫郁薇; 郭爱民 刊期:2005年第B12期
介绍了可靠性、维修性和保障性工程软件——CARMES的主要功能、技术特点、工程应用情况以及技术创新点,并就软件的功能拓展和发展方向进行了探对。
作者:郑丽香; 古文刚; 杨培亮; 聂国健; 张增照; 林长苓; 马阳华 刊期:2005年第B12期
电子元器件是电子装备的基础,是保证装备高可靠性的基本单元。严格控制选用元器件的质量,保证和促进高质量元器件的应用是提高装备质量与可靠性水平的关键。综合优选信息系统为电子元器件的选用和管理提供全面、准确和动态的信息,是设计师、采购人员、维修和管理人员所需的软件工具。
作者:张增照 刊期:2005年第B12期
针对可靠性预计准确性的争论,分析了可靠性预计的方法及标准的数据内涵,指出由于预计手册表征的是不同国家、地区的元器件可靠性水平,根据不同的预计方法(手册)来预计同一设备,因结果不同而得出可靠性预计不准确的结论是不妥当的。验证一个预计手册是否准确的唯一标准是被预计设备的现场MTBF值是否同预计值接近。影响预计准确性的因素包括...
作者:莫郁薇; 彭成信 刊期:2005年第B12期
通过分析集成电路失效类型与诸影响因素的关系,对集成电路可靠性预计模型进行了理论的探讨,以现场和试验数据为基础,研究模型参数的意义、表达式及其确定方法,并给出我国数字电路的温度应力系数和复杂度系数。