摘要：电阻抗成像（electric impedance tomography,EIT）是利用测量得到边界电压重构内部电导率分布的技术.通过在ANSYS中建立三维头球模型并注入电流,采用自适应局部增强微分进化算法进行逆问题重构.首先对EIT的基本原理进行阐述,其次介绍微分进化算法在电阻抗成像中的应用,最后通过在头球模型上进行仿真实验,针对基本微分进化算法及其改进算法进行逆问题重构.仿真结果表明,改进的算法较微分进化算法在时间上有显著提高,适应性与牛顿-拉斐逊算法相比明显提高.

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