物理实验杂志 部级期刊

基于强度补偿式光纤传感器测金属线胀系数

作者：贾亚民; 杨拴科; 朱钧 刊期：2008年第10期

分析了强度补偿式光纤位移传感器的补偿机理．通过测量定标，应用最小二乘法确定了该传感器的特性曲线和拟合方程．使用强度补偿式光纤传感器测量了黄铜和铝杆的线胀系数．实验结果表明：强度补偿式光纤位移传感器采用比值运算法给出测量结果，其灵敏度高，稳定性好，用其测量微小位移，可消除一些传统测量方法中待测参量较多而引入过多测量误差...

接触法复制全息图的实验

作者：金清理 刊期：2008年第10期

接触法复制全息图需要使母全息图与感光干板的乳胶面相向紧密接触，对母全息图进行透射照明，经冲洗处理后的曝光干板即为普通的全息图．采用低压钠灯为光源，对菲涅耳全息图进行复制实践，复制全息图的再现像清晰度比母全息图要差，但就像的质量而言层次很分明．

Bi0．5Na0．5TiO3纳米晶的制备及其性能研究

作者：童悦; 郑庆华; 夏峥嵘 刊期：2008年第10期

采用凝胶自燃烧法合成Bi0．5Na0．5TiO3纳米粉体，并表征了粉体的晶柑结构．测试表明应用凝胶自燃工艺合成的Bi0．5Na0．5TiO3粉体材料的粒子大小均匀，晶相单一，不需要经高温处理便能直接形成钙钛矿结构超细粉末．用所合成的粉末压片，1125℃烧结2h即可获得致密的烧结体，其相对密度为98．08％．用SEM观察烧结样品的平均粒径为2μm．

AlN缓冲层对ZnO薄膜质量的影响

作者：宗磊; 李清山; 李新坤; 张霞; 梁德春; 徐言东 刊期：2008年第10期

采用脉冲激光沉积法以AlN为缓冲层在Si（100）衬底上制备了ZnO薄膜，并测量了样品的XRD谱、SEM图和PL谱．结果表明，AlN缓冲层可以提高Si衬底上外延生长ZnO薄膜的晶体质量．改变缓冲层的生长温度（50～500℃）所制备样品的测量结果表明，较低温度下生长的AlN缓冲层有利于制备高质量的ZnO外延层薄膜，其中AlN缓冲层生长温度为100℃时外延生长ZnO...

利用磁钢与铝质硬币演示楞次定律

作者：杨春叶; 刘贵兴 刊期：2008年第10期

利用磁钢和硬币设计了操作简易的磁学演示实验，通过磁钢对铝镁合金制成的硬币的作用力的研究，有助于学生理解楞次定律．

利用力传感器测量单摆周期

作者：周勇; 李更磊; 郑小平 刊期：2008年第10期

由于单摆摆线张力水平分量TH的周期与单摆的振动周期一致，因此，利用力传感器采集TH随时间变化的数据，经相应处理可得单摆的周期．该方法操作简便，精确度高，实验重复性好，易于在中学物理实验教学中实施．

光栅编码图像微分

作者：许浩瀚 刊期：2008年第10期

采用光栅编码的方法，可以实现图像微分．该方法噪声小，微分量可变，处理面积大．

用转动定律实验仪测圆盘转动惯量实验的改进

作者：张忠厚 刊期：2008年第10期

对测圆盘转动惯量实验进行改进，避免了耗材、不安全、仪器易损坏等问题；在原理上消除了摩擦阻力矩的影响，提高了实验精度；对实验室现有资源进行改造，提高了实验仪器的利用率．

利用晶体三极管测玻尔兹曼常量实验方法的讨论

作者：杨德甫; 杨能勋 刊期：2008年第10期

在不使用运算放大器的情况下，直接利用晶体三极管与数字式电流表测出扩散电流，可以得到较为准确的玻尔兹曼常量．

用组合测量方法测金属线胀系数

作者：安奎生; 张娟; 郭静杰 刊期：2008年第10期

用铜-康铜温差电偶代替水银温度计对金属棒（铜棒）进行动态实时温度测量，用尺度望远镜同步读取棒长度示数，用最小二乘法进行线性拟合，从而得到金属线胀系数．

夫兰克-赫兹实验中几个问题的研究

作者：董键; 李咏梅; 崔秀芝 刊期：2008年第10期

测量了F—H实验中控制电压的敏感区，观测了3种不同电路下汞原子的电离曲线并对其成因进行了解释．观测了电离情况下板极电流与反射电压的关系，阐明了在高反射电压下电子在第二栅极附近聚集会增加离子的复合概率．观测了两栅极之间处于“悬浮”状态时板极电流的不稳定，反映了电子和离子扩散的随机性与噪声电压的影响．

利用PASCO传感器研究管中声波的共振

作者：朱礼军; 魏昕; 喻颖 刊期：2008年第10期

利用PASCO传感器测量了共振管中的声压分布，结果与基于多重反射的理论分析符合很好．在此基础上，测量了共振管开口端对管内声波的反射系数及其对频率的依赖关系．

完全膜沸腾表面汽化率的测量及数值分析

作者：徐宁; 严亮; 徐斌; 王思慧; 潘永华; 周惠君; 朱兵 刊期：2008年第10期

通过在高温铜板表面上滴加酒精可产生稳定的完全膜沸腾现象．测量了液滴体积与完全汽化时间曲线，得出完全膜沸腾时，下表面的蒸发占体积减少的主要部分，并通过建立数学模型确定了下表面蒸汽膜处的蒸发速率．

《物理实验》杂志稿约

刊期：2008年第10期