首页 期刊 机械制造文摘 三维封装芯片固液互扩散低温键合机理研究 【正文】

三维封装芯片固液互扩散低温键合机理研究

作者:杨东升; 田艳红 哈尔滨工业大学
三维封装   微芯片   键合机理   互扩散   高密度互连  

摘要:微电子技术发展已进入集成系统芯片和模块芯片时代,微芯片对互连技术提出了高密度互连和高信号传输率的要求,三维立体封装技术能在高度上实现多层芯片模块化封装,使体积大大减少的同时会使芯片内部的互连点变得更小,

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