电子产品可靠性与环境试验

电子产品可靠性与环境试验杂志 部级期刊

Electronic Product Reliability and Environmental Testing

杂志简介:《电子产品可靠性与环境试验》杂志经新闻出版总署批准,自1980年创刊,国内刊号为44-1412/TN,是一本综合性较强的电子期刊。该刊是一份双月刊,致力于发表电子领域的高质量原创研究成果、综述及快报。主要栏目:自动化技术及设备、计算机科学与技术、计量与测试技术、可靠性与环境适应性理论研究、可靠性与环境试验技术及评价、仿真建模与分析、软件...

主管单位:中华人民共和国工业和信息化部
主办单位:工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)工业和信息化部电子第五研究所 (中国电子产品可靠性与环境试验研究所) (中国赛宝实验室)
国际刊号:1672-5468
国内刊号:44-1412/TN
全年订价:¥ 160.00
创刊时间:1980
所属类别:电子类
发行周期:双月刊
发行地区:广东
出版语言:中文
预计审稿时间:1个月内
综合影响因子:0.34
复合影响因子:0.71
总发文量:1203
总被引量:3692
H指数:18
引用半衰期:2.8
立即指数:0.0762
期刊他引率:0.6433
平均引文率:5.1524
  • 舰船系统战备完好性的确定和评估步骤

    作者:施建荣 刊期:2004年第05期

    战备完好性是舰船系统在使用过程中需要达到的一种质量特性.它是通过一系列工程活动设计、制造,并在系统中形成的.由于舰船的任务特点是远离岸基作战,出航时间长,各种任务状态(巡航、交战、锚泊)交替进行,这就要求舰船的各种系统具有良好的战备完好性,一旦出现故障,应能在海上及时修复,因此,在新装备的研制中,把使用可用性作为系统研制的主要目...

  • 实验室接地系统设计

    作者:穆荣; 顾持真 刊期:2004年第05期

    实验室仪器设备接地处理不当将直接影响测试数据的准确性,正确选择及实施实验室接地系统方案成为关键.该方案是依据JGJ/T 16-92规范并结合实验室的仪器设备情况而确定的.实施后经检测,满足实验室使用要求.

  • 通讯设备接地问题的探讨

    作者:韩燕; 杨迎春; 王建民 刊期:2004年第05期

    从接地系统的功能、接地原理、接地原因、接地系统种类等方面对接地在通讯设备设计中的重要性进行了论述,使用EMC设计准则,对通讯设备接地系统的设计问题进行了探讨.

  • 《家庭电子》大改版

    刊期:2004年第05期

  • CMOS集成电路中电源和地之间的ESD保护电路设计

    作者:姚维连; 孙伟锋; 吴建辉 刊期:2004年第05期

    讨论了3种常用的CMOS集成电路电源和地之间的ESD保护电路,分别介绍了它们的电路结构以及设计考虑,并用Hspice对其中利用晶体管延时的电源和地的保护电路在ESD脉冲和正常工作两种情况下的工作进行了模拟验证.结论证明:在ESD脉冲下,该保护电路的导通时间为380ns;在正常工作时,该保护电路不会导通,因此这种利用晶体管延时的保护电路完全可以作为CMO...

  • 先进集成电路制造的圆片级可靠性系统

    作者:曾繁中; 简维廷; 陈雷刚; 施雯; 蔡炳初 刊期:2004年第05期

    圆片级可靠性测试是从可靠性物理的基础上发展起来的,利用工艺过程统计的控制方法来收集数据,并且通过快速的参数测量来检测出导致产品可靠性退化的原因.这种测试采用的是较高的、但在容许范围之内的测量应力(如温度、电压、电流),将其加到圆片上的测试结构中,然后测量由这种应力所产生的品质退化.圆片级可靠性测试系统主要分4个阶段:圆片级可靠...

  • 赛宝计量检测中心10个项目通过论证

    刊期:2004年第05期

    2004年8月16~19日,赛宝计量检测中心申报的2004年、2005年10个项目立项顺利通过论证。8月16~19日.信息产业部电子计量管理办公室在电子601计量站(赛宝计量检测中心)组织召开了“谐波测试仪器校准系统”、“智能电气安全规范综合测试系统”、“电快速瞬变脉冲群发生器校准装置”

  • VLSI老化筛选试验技术的挑战

    作者:温平平; 焦慧芳; 贾新章; 罗雯; 王群勇; 魏建中 刊期:2004年第05期

    通过对集成电路老化试验技术的研究,指出了VLSI老化筛选试验技术仍然是集成电路产品质量和可靠性保障的重要手段.但是随着集成电路技术的飞速发展,老化技术面临许多有待解决的技术问题,从VLSI产品质量和可靠性保障的角度出发,急需制定可操作的VLSI老化试验技术规范.

  • HALT与HASS技术原理概述

    作者:邓林; 王世涛 刊期:2004年第05期

    面对激烈的市场竞争以及顾客对高质量、低成本产品的需要,如何使产品尽快、成熟地完成设计,从而以高质量产品快速占领市场,对产品的设计制造企业来讲显得尤为重要.而要达到这些目的,就必须使用一些高效率的工具来辅助完成产品设计,以保证顾客使用到可靠的和高质量的产品.HALT与HASS技术正是这一过程有力的支持工具.在产品设计中,使用HALT与HASS...

  • 某型航空相机的可靠性检测研究

    作者:蒋定定; 李开端; 王尚强 刊期:2004年第05期

    可靠性检测是对设备规定性能的综合检验.航空相机的可靠性检测是其维护工作的一项重要内容.针对某型航空相机的特点,阐述了可靠性检测的基本概念、原理和方法,并给出可靠性检测结果的验收标准.

  • 环境温度对脉冲变压器的影响

    作者:王瑞兴 刊期:2004年第05期

    随着计算机技术的发展,高频变压器的应用越来越广泛,其可靠性成为关注的焦点.影响高频变压器可靠性的主要因素是环境温度,温度的变化会导致电感值的变化,从而影响变压器的性能.因此,必须对高频变压器进行可靠性试验,特别是温度试验,并对试验方法、试验数据的采集、试验结果的分析进行了介绍.

  • 通信干扰设备环境试验及数据处理方法

    作者:葛海龙; 黄静华 刊期:2004年第05期

    介绍了通信干扰设备环境试验方法,提出采用非参数检验的环境试验数据处理方法,能定量地描述环境试验前后技术性能的变化关系.

  • TCR无功补偿系统仿真分析

    作者:米志红; 王淑芳; 郑春芳 刊期:2004年第05期

    电力电子器件的广泛应用会引起电网和用电单位的无功功率下降.基于瞬时无功功率理论,以济宁2号井的电力系统为背景,设计了TCR单闭环控制策略,以此提高功率因数并补偿无功功率的下降.并对设计的无功功率系统进行仿真,仿真结果验证了设计的有效性.

  • 联体式综合环境试验箱的选型和应用

    作者:朱曦全 刊期:2004年第05期

    对联体式综合环境试验箱的选型和应用情况进行了介绍,包括技术需求、方案、可行性、具体的结构形式和控制方式、应用方式以及应用事例等.联体式综合环境试验箱的选型,实现了综合环境试验箱的多种组合应用方式,能够满足系统级、多剖面综合环境可靠性试验的需求.

  • 加速环境应力试验在COG-LCD中的应用

    作者:吴永俊; 詹前贤 刊期:2004年第05期

    液晶显示器件(LCD)的应用范围不断扩大,尤其是在高档电子、通信领域的应用已成为流行的趋势.基于缩小器件体积及降低器件成本的需要,COG(CHIP ON GLASS)、COF(CHIP ON FILM)模块工艺应运而生.通过对COG-LCD进行未封硅胶时的高温、高湿加速环境应力试验,以及对试验后失效样品的分析,找出造成部分产品使用过程可靠性下降的根本原因,并通过工艺改进...