电子产品可靠性与环境试验

电子产品可靠性与环境试验杂志 部级期刊

Electronic Product Reliability and Environmental Testing

杂志简介:《电子产品可靠性与环境试验》杂志经新闻出版总署批准,自1980年创刊,国内刊号为44-1412/TN,是一本综合性较强的电子期刊。该刊是一份双月刊,致力于发表电子领域的高质量原创研究成果、综述及快报。主要栏目:自动化技术及设备、计算机科学与技术、计量与测试技术、可靠性与环境适应性理论研究、可靠性与环境试验技术及评价、仿真建模与分析、软件...

主管单位:中华人民共和国工业和信息化部
主办单位:工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)工业和信息化部电子第五研究所 (中国电子产品可靠性与环境试验研究所) (中国赛宝实验室)
国际刊号:1672-5468
国内刊号:44-1412/TN
全年订价:¥ 160.00
创刊时间:1980
所属类别:电子类
发行周期:双月刊
发行地区:广东
出版语言:中文
预计审稿时间:1个月内
综合影响因子:0.34
复合影响因子:0.71
总发文量:1203
总被引量:3692
H指数:18
引用半衰期:2.8
立即指数:0.0762
期刊他引率:0.6433
平均引文率:5.1524
  • 论电子企业的健康诊断

    作者:孔繁荣 刊期:2004年第04期

    通过对近百家大型一流企业进行咨询,发现在宏观环境"管制失效"中频频出现病灶,采用抓住产品和服务是取得经济效益的核心,紧扣以人为本的主题,建立质量、职业健康安全、环境三标一体化体系,从过程控制、过程监控、过程优化着手,强化管理,提高企业绩效.

  • 定期预防维修是提高无人值守冗余系统可靠性的新途径

    作者:丁定浩 刊期:2004年第04期

    可靠性是无人值守系统的关键难点,通过对冗余设施可靠性变化特性的讨论,提出并证明了预防维修是解决无人值守系统可靠性设计的有效途径.

  • 广州市电子政务内网防火墙选型测试项目圆满完成

    作者:张昊; 宋显娜 刊期:2004年第04期

    从2004年4月26日至6月10日.经过近一个半月的测试,信息产业部电子第五研究所数据中心网络测试项目组圆满地完成了广州市电子政务内网防火墙选型测试的工作。这次选型的防火墙分为百兆和千兆两种类别.有10个厂家16个型号,基本上代表了国内防火墙的主流产品和主

  • 微电子器件多失效机理可靠性寿命外推模型

    作者:李志国; 李杰; 郭春生; 程尧海 刊期:2004年第04期

    提出了一种新的微电子器件快速评价方法,具有快速、准确、成本低、能观察分析参数退化的全过程,能有效地分析器件的失效机理.它与常规方法不同,可对单样品求出不同失效阶段的失效激活能和寿命,根据其参数退化的温度范围可外推出单样品工作条件下的寿命.通过一定数量的对比试验,该方法与常规方法有可比性.

  • ××系列机内通话器可靠性改进

    作者:杨迎春; 韩燕 刊期:2004年第04期

    ××系列机内通话器是装备我国××系列飞机的主要设备.提高现有机通产品的可靠性对改善飞机内的通信可靠性是至关重要的.通过对××系列机内通话器在可靠性改进方面所做工作的介绍,对其它电子设备的可靠性改进有一定的借鉴作用.

  • 10亿美元宁波电子电器产品受阻于欧盟环保指令

    刊期:2004年第04期

  • 铝电解电容器的低漏电研究与控制

    作者:陈华; 丰磊; 梁亚芹 刊期:2004年第04期

    介绍了铝电解电容器漏电流产生的根源,分析了影响漏电流的因素,通过研制工作电解液、选用高品质材料、改进制造工艺来控制铝电解电容器的低漏电.

  • 电子元器件可靠性技术在反坦克导弹武器系统中的应用

    作者:韩少华; 寇烈; 张增照 刊期:2004年第04期

    讨论了电子元器件在反坦克导弹武器系统中选择与使用时存在的主要可靠性问题及其解决方法,包括环境应力筛选、禁用元器件、贮存期、静电防护、热设计等问题,为相关设计人员提供一定的借鉴.

  • 2004年增刊征稿启事

    刊期:2004年第04期

  • CD-R记录原理

    作者:龚午婴 刊期:2004年第04期

    通过对CD-R技术的研究,从其规格、记录等内容简要介绍了CD-R的介质特性、记录原理和记录方法,提供一些有效的实际经验.

  • 用贝叶斯统计推断进行系统可靠性分析的方法

    作者:王进才; 张宏斌; 刘永新 刊期:2004年第04期

    贝叶斯分析是综合了人为主观判断和试验数据的一种推断方法,根据获得的累计失效时间数据,采用该方法对串联系统可靠性特征量进行了分析.

  • 空调控温传感器短路失效分析与控制

    作者:何小琦 刊期:2004年第04期

    结合空调控温传感器的结构特点,分析了导致NTC热敏电阻短路失效的旁路并联电阻模型,通过样品解剖和能谱检测,证实了电极银离子迁移是导致热敏电阻形成旁路并联电阻失效的主要机理.另外,还根据导致银离子迁移的条件,从使用和生产两个方面提出减少银离子迁移的控制措施,并介绍了评价金属离子迁移的相关标准.

  • 中国电子学会可靠性分会学术会议预告

    刊期:2004年第04期

  • 可靠性寿命试验的动态截尾方法

    作者:高大化; 马月娜; 郭波 刊期:2004年第04期

    为节省试验时间和资源,可靠性寿命试验通常采用定数截尾和定时截尾两种方法.但是它们有相同的不足,就是在试验结束后才进行数据分析,无法进行实时的动态控制.为解决这一问题,提出了寿命试验的动态截尾方法,利用该方法研究寿命服从指数型分布产品的可靠性试验,提出了试验动态截尾的数据处理模型及判据.该方法的思想可以推广应用于其它产品的可靠...

  • 空调器高温、高电压启/停试验与分析

    作者:冯利峰 刊期:2004年第04期

    分析了空调器在启、停过程中的运行状态,以及对空调器使用可靠性的影响,提出了一种基于准高加速的可靠性试验方法:高温、高电压启/停试验方法.通过描述热激发失效的Arrhenius方程,对使用该方法进行可靠性试验的加速系数进行了计算.