杂志简介:《电子产品可靠性与环境试验》杂志经新闻出版总署批准,自1980年创刊,国内刊号为44-1412/TN,是一本综合性较强的电子期刊。该刊是一份双月刊,致力于发表电子领域的高质量原创研究成果、综述及快报。主要栏目:自动化技术及设备、计算机科学与技术、计量与测试技术、可靠性与环境适应性理论研究、可靠性与环境试验技术及评价、仿真建模与分析、软件...
作者:孔学东; 恩云飞; 章晓文; 张晓明 刊期:2004年第03期
简要介绍了可靠性评估(REM)测试结构设计,并介绍了REM试验中与时间有关的栅氧化层击穿(TDDB)、热载流子注入(HCI)效应和电迁移(EM)效应的评价试验方法及实例.REM技术与工艺过程控制(PCM)、统计工艺控制(SPC)技术结合起来就可以实现对工艺的可靠性评价与控制,某集成电路生产公司将它应用于金属化工艺中,确定了工艺输入变量与电迁移可靠性的相关性...
作者:施建荣 刊期:2004年第03期
可靠性是舰船装备的重要质量特性,是影响装备作战效能及其寿命周期费用的主要因素.对舰船装备可靠性工程中的故障模式影响和危害度分析模型、故障树分析模型、舰队保障库存大纲模型、老虎模型、以可用性为中心的库存模型、以战备完好性为基础的备件配置法模型进行了分析.这些模型在目前舰船装备的可靠性工程中具有重要的地位,对装备的战备完好性...
刊期:2004年第03期
作者:黄云 刊期:2004年第03期
从元器件可靠性物理分析技术角度,系统地阐述了失效信息的收集与分析、失效分析、破坏性物理分析、密封器件内部气氛分析、失效模式及机理与工艺的相关性分析、失效模式与影响分析等元器件的质量与可靠性分析技术.将元器件质量与可靠性分析技术融入元器件产品设计、制造过程是实现元器件可靠性增长的必然趋势.
作者:韩静; 李斌 刊期:2004年第03期
软击穿是与氧化层质量密切相关的一种新的击穿形式.当氧化层厚度小于5 nm时,软击穿效应显著,是超薄栅氧化层的主要失效机理.通过对国外软击穿研究状况的分析,对超薄栅氧化层中软击穿的失效模型和机理进行了综述.
刊期:2004年第03期
作者:袁俊 刊期:2004年第03期
合格评定是一个国家或地区为保证本国或本地区产品质量和使用安全,面对企业的市场准入而施行的一种监控手段.在经济全球化发展的大趋势面前,企业面临新的机遇和挑战,为提高企业的竞争优势,建立并适应国外合格评定制度是非常必要的.对美国、日本、韩国及欧盟合格评定制度的基本情况进行了综述.
刊期:2004年第03期
欧盟技术标准分为两层:1)欧洲标准,即包括欧洲标准化委员会在内的欧洲区域标准化组织制定、的标准;2)各国标准,包括各成员国的国家标准以及各国行业协会、专业团体制定的标准,目前,这类标准有10万多项。标准是推荐性的,企业自愿执行,进口商也不一定要全部符
作者:孙占辉; 张培仁 刊期:2004年第03期
介绍一种具有CAN现场总线的角驱动器控制模块的设计思路和实现方法.除了完成对角驱动器的一般控制外,还把对角驱动器的控制和对温度或压力的测量结合起来,形成两个闭环控制回路.
作者:程海瑾; 穆平安; 戴曙光; 郑志红 刊期:2004年第03期
以架空电缆蠕变量测量系统为应用背景,提出采用CAN总线作为通讯方式和具有多节点的分布式结构的测量系统.重点阐述了CAN总线硬件设计和软件编程等问题.与传统的集中控制相比,该系统具有结构简单、适应性强、易扩充等特点.
作者:高智杰; 李丹丹 刊期:2004年第03期
在导弹测试过程中,数据采集是必不可少的部分,其软件实现部分利用Win32系统提供的多线程机制,通过在控制类中并发一个监控线程来实现并发控制类,使控制类在采集外界数据的同时,能对数据进行判断,选择进一步的增益,从而实现多量程变精度A/D采集的自适应控制.
刊期:2004年第03期
作者:魏选平; 卞树檀 刊期:2004年第03期
介绍了故障树分析法的基本原理及其应用实例,并利用C语言来解决可靠性问题.从实验中,获得了值得借鉴的经验.
作者:张延伟 刊期:2004年第03期
管状熔断器是目前在电路设计中广泛采用的一种过流保护元件,分析了管状熔断器的熔断原理,总结了管状熔断器的典型失效模式和失效原因,给出管状熔断器的一般失效分析程序.
作者:赵和义; 蔡懿 刊期:2004年第03期
主要围绕产品开发,提出了可靠性分析在研发过程中的重要作用和工作程序,将以往单纯追求产品仿造转换为失效模式分析与失效机理分析相结合、技术指标与质量验证相结合的工作模式,不仅改进了研发的工作模式,而且保证了产品的可靠性,其目的是确保研发产品达到预定的技术指标.由于这种工作模式从根本上确保质量达标,因此可以固化为标准的方法,应用到...