摘要：介绍了提高采样式光学遥感器图像空间分辨率的国内外发展现状,以任意两维周期采样理论为基础,探索了一种通过把线阵探测器倾斜θ度而非常规线阵推扫的0°,同时把推扫方向的采样间距缩短为P/m,而非常规线阵推扫的P的新焦平面采样方法.该方法相对于常规线阵推扫采样,可以增加采样密度,提高图像空间分辨率.在原理研究的基础上,设计了一套实验验证系统,通过实验系统对该方法进行了物理及其可行性验证.试验结果表明：如果探测器阵列旋转45°并且推扫方向采样间距减半,相对常规线阵推扫采样,图像的空间分辨率可以提高1.64倍左右.相对于高模式采样技术和超模式采样技术,该方法避开了两排错位排列探测器的难题,因此工程实现上要简单.

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