摘要：针对模拟电路中元器件故障检测方法不成熟的问题,利用故障植入法,对一类晶体管失效的模拟放大电路进行故障诊断与分类,高效快捷地获得故障特征数据,基于概率神经网络对故障进行分类,经过处理输入数据与调整Spread值,得到了精确度很高的概率神经网络模型,并且在实际电路中得到了进一步验证。
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