【免费】饰品银含量和覆盖层厚度的X射线荧光检测-发表之家

饰品银含量和覆盖层厚度的X射线荧光检测

作者：吴奕阳; 杨鹔; 黄国芳国家金银制品质量监督检验中心(上海); 上海市计量测试技术研究院; 上海200233; 国家金银制品质量监督检验中心(南京); 南京市产品质量监督检验院; 南京210018

分析化学 x射线荧光法银饰品覆盖层厚度样品总厚度

摘要：采用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪,以及K值计算法,对银饰品中银含量、镍覆盖层厚度和样品总厚度进行检测研究。银含量检测的结果与国家标准溴化钾容量法(电位滴定法)(GB/T17832-2008)的检测结果吻合。

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