电子质量杂志 部级期刊

小波分析在数字超声检测系统消噪中的应用

作者：罗凤姿; 赵望达 刊期：2005年第04期

基于小波函数的特点,从小波分解的效果,小波降低信噪比等方面,系统地分析小波及小波包在混凝土构件超声信号检测中的应用,利用四阶Daubechies小波函数建立了一小波消噪模型.实际应用效果分析表明,混凝土构件超声信号经小波及小波包处理后,提高了超声检测的灵敏度,增强了超声波检测检出缺陷的能力.

SA9904B在电力参数远程测控系统中的应用

作者：王加乐; 许少云; 熊勇 刊期：2005年第04期

介绍Sames公司的三相功率/电量测量专用集成电路芯片(ASIC)SA990048的结构、功能及其串行通信接口的时序.介绍该芯片在电力参数远程测控系统中的应用.

基于数据采集的虚拟仪器系统设计

作者：邱丽; 赵新会; 孙培强 刊期：2005年第04期

本文就使用LabVIEW开发平台设计虚拟仪器系统进行的实践情况作了介绍,提出了实验室组建方案.使用National Instruments公司的DAQ数据采集软件、LabVIEW形化编程软件平台和局域网(一个无盘工作站)来开发一个经济、灵活的基于PC网络的测控系统.

逻辑分析仪需要多少带宽？

作者：BrockJ．LaMeres 刊期：2005年第04期

在讨论带宽和逻辑分析仪时,人们经常出现混淆.传统上,逻辑分析仪被认为是一种纯粹的数字测量工具.但是,随着数据速率提高及上升时间缩短,设计人员正被迫了解这一工具的模拟特点.设计人员面临的最大问题之一,是保证其检验工具能够以这些更高的频率工作.在未能全面理解时,设备带宽和负荷等因素可能会导致假负数,中断系统.数字系统设计人员必须信任...

通过DLL实现向VEE开发平台的转变

作者：王小强; 蒋利田; 王文双; 许少辉 刊期：2005年第04期

本文介绍了自动测试的软件控制原理.在Windows操作系统中,应用接口直接与应用程序接口、硬件驱动程序进行通讯来达到控制测试硬件的目的.通过在VEE软件中对DLL文件的调用,可以实现对通用硬件接口卡的控制.

适合电子制造商使用的、测试成本更低的新型序列式测试仪器

作者：AndrewArmutat 刊期：2005年第04期

大多数电子制造商都面临着一些共同的业务问题。全球性的竞争压低了产品价格，但却增加了产品的功能特性；不断缩短的产品生命周期；不断减小的利润率促使制造商竭尽一切可能降低产品成本，其中也包括测试成本，但随着产品复杂程度的增加，测试成本却反过来呈增长趋势。

利用数字万用表检测间歇性故障

作者：福禄克 刊期：2005年第04期

本文论述了利用福禄克的数字万用表来的记录最小/最大/平均值的功能来解决诊断间歇性电气故障的具体解决方案,并给出了详细的方法.

理解测试实质，应对EN55020要求

作者：姚岛 刊期：2005年第04期

本文从产品设计的角度介绍了EN55020:2002的测试实质,阐述了该标准的测试中被测设备受干扰的原理,并分析了如何在设计中采取有效的应对措施,使设计出的机器满足标准要求.

凝聚电子巨流为科技进步增添一臂之力——“第三届现场线上认证测试实践交流会”纪实

作者：戴岭丹 刊期：2005年第04期

2005年4月12-14日，由广州市巨流信息科技传媒有限公司与中国电子器材总公司共同主办的“第三届现场线上认证测试实践交流会”在深圳高交会馆(C馆)隆重举行，并获得了圆满的成功。

测试厂商如何逐鹿全球3G测试市场——访安捷伦宋宏平和艾法斯张洪京

作者：罗思娜 刊期：2005年第04期

伴随着3G测试在通信测试领域当中成为热点中的热点之时，3G测试这块大蛋糕无疑也吸引了众多的国际测试测量行业巨头，纷纷采取开发新型的3G测试设备、研究3G测试技术，并主动参加或自办展览会、研讨会和巡回推广新产品等多种手段、方式来瓜分这一大蛋糕。如2005年4月，由广州市巨流信息科技传媒有限公司主办，云集了海内外的测试工程师、电信运...

综合资讯

刊期：2005年第04期

美国福禄克725多功能过程仪表校准器荣获“CONTROL ENGINEERING China2004年度最佳产品奖”；蜂产品检验技术获科研大奖；我国将起草仪器化检验棉花国家标准；安捷伦推出测试与测量技术认证；扫描探针显微镜使生物成像科学前进到纳米级

卷烟包装机组PLC控制系统的可靠性设计

作者：孙宏杰; 王庚斗 刊期：2005年第04期

本文着重讲述了高速卷烟包装机组PLC控制系统的可靠性设计,并对其可靠性指标的分配与预计、采取的方法进行了说明.

集成电路可靠性应用技术

作者：闫立 刊期：2005年第04期

本文主要论述集成电路加速寿命测试理论方法和IC常见失效模式.加速寿命测试包括定性高加速寿命HALT测试技术和定量加速寿命测试Arrhenius model等,该测试技术主要应用于IC设计前端识别失效模式和IC设计定型阶段估算IC正常使用条件下的寿命信息,及时有效的评估IC设计平均寿命;在电子产品制造系统中,常常有两种失效模式:ESD静电损伤和LATCH-UP失效...

PCB设计的阻抗控制和阻抗匹配

作者：黄书伟; 赵丹玲 刊期：2005年第04期

阻抗设计是PCB可靠性设计的一个重要环节.本文从多层PCB板叠层的设计原理、特性阻抗的计算方法、严格的阻抗控制,来保证阻抗匹配,实现PCB的可靠性,使产品稳定的工作.

GB／T19000-ISO9000族标准小知识

刊期：2005年第04期