摘要：SR-332手册是国际上应用较为广泛的电子设备可靠性预计商用标准。本文基于SR-332手册给出的元器件失效率预计模型,对影响元器件及电子设备失效率的主要因素进行分析,推导出元器件的电应力因子和温度应力因子分别对电应力水平和周围环境温度的灵敏度模型以及电子设备整机失效率对这两个影响因素的灵敏度模型,并基于推导出的模型开展灵敏度分析。

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