首页 期刊 应用能源技术 基于STM32与图像采集模块OV5640的物品表面缺陷检测仪设计 【正文】

基于STM32与图像采集模块OV5640的物品表面缺陷检测仪设计

作者:徐伦 三江学院电子信息工程学院; 南京210012
stm32f429   图像采集   表面缺陷检测   频谱法   语音播报  

摘要:针对物品表面缺陷检测所面临的缺陷区和非缺陷区之间的低对比度、噪音与细微缺陷的相似度、检测偏慢和识别度较低等问题,设计了一种以STM32与OV5640为核心的便携式物品表面缺陷检测仪。本设计采用图像采集模块OV5640对物品表面快速帧扫描,将采集到的数据通过DMA方式传送给STM32F429存储,然后STM32F429对图像数据进行采样、频谱算法实现、结果提取等处理,最后将处理完的数据送液晶显示屏显示,并实现语音播报是否有缺陷。实验测试表明,这个设计可用于检测物品表面的污点、划痕、线与阴影等缺陷,其具有稳定性好、操作简便、处理速度快、实时性好等特点。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

学术咨询 免费咨询 杂志订阅