摘要：数据采样精度和采样速率是A／D转换的重要技术指标。目前受半导体工艺技术的限制，高采样精度的A／D芯片一般具有较低的采样速率。本文提出一种时间交替ADC采样技术，通过在时域上多通道并行交替采样，使采样速率达到原来单片ADC的多倍。最后进行多路交替采样试验，结果验证了该方法的正确性。
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