首页 期刊 物探化探计算技术 基于电阻率成像技术的基坑渗漏探测方法 【正文】

基于电阻率成像技术的基坑渗漏探测方法

作者:蔡克俭; 殷亚斌; 廖智; 丁月双 天津市勘察院; 天津300191
基坑渗漏   电阻率成像   地下水   流线  

摘要:随着城市建设的不断发展和进步,地下工程规模越来越大,各种超大超深基坑不断出 现,特别是在软土和地下水丰富、水位较高地区,由于基坑工程的渗漏问题导致的工程事故时有 发生.基坑渗漏是基坑止水帷幕施工中常见的一种施工缺陷,所以预先对基坑围护体系的渗漏 情况进行探测,若发现有渗漏区域在开挖之前及时进行处理与预防就显得尤为必要.这里阐述 基坑围护体系发生渗漏时,基坑周围地下水流线的变化特征,流线向渗漏处聚集,渗流位置的水 流线密集区域渗流阻力小,导致基坑周围土体的渗漏处电阻率变低.给出了基于电阻率成像技 术,通过探测基坑周围土体在基坑降水前后的电阻率变化,进行基坑渗漏探测的方法,并通过两 个工程实例说明该方法能探测出基坑渗漏三维位置,探测结果客观准确.

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