首页 期刊 微电子学 基于测试系统的FPGA逻辑资源的测试 【正文】

基于测试系统的FPGA逻辑资源的测试

作者:唐恒标; 冯建华; 冯建科 北京大学微电子学系SOC测试中心; 北京100871; 北京自动测试技术研究所; 北京100088
fpga测试   可编程逻辑   测试方法   测试系统  

摘要:FPGA在许多领域已经得到广泛应用,其测试问题也显得越来越突出。文章针对基于SRAM结构FPGA的特点,以Xilinx公司的XC4000系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在BC3192V50测试系统上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试。它是一种基于测试系统的通用的FPGA配置和测试方法。

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