首页 期刊 轻工标准与质量 基于软件自检措施在HALT试验中快速定位MCU及相关电子电路故障的方法研究 【正文】

基于软件自检措施在HALT试验中快速定位MCU及相关电子电路故障的方法研究

作者:冯长卿; 赵鸿斌; 于鸿瑞 中国家用电器研究院; 北京100176; 中国轻工业联合会; 北京100833
智能家电   软件自检措施   halt试验  

摘要:近几年智能家电迅猛发展,家电产品智能化水平急速提高,智能家电的功能相对于传统家电来说更加丰富,决定智能家电可靠性的因素就会增加。决定家电能否正常工作和智能化的一个重要因素是家电的“大脑”及核心处理单元(MCU及相关电子电路)的可靠性,因此快速定位MCU及相关电子电路故障是每一个家电企业都必须面对的重要问题。

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