摘要:随着电子设备高度集成化,高速数字印刷电路产生的辐射骚扰日益严重,电磁屏蔽方法可有效扼制辐射干扰噪声.然而,电子设备外壳易产生孔缝泄漏,大大降低了其电磁屏蔽效能.针对开关电源,探讨了原理,利用CST仿真软件对不同开孔情况进行比较,得到一般性结论,为辐射噪声抑制提供了理论依据.
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