首页 期刊 科技创新导报 基于气隙放电的套管介损异常仿真分析 【正文】

基于气隙放电的套管介损异常仿真分析

作者:张鹏; 杨焘; 杜培 上海交通大学电气工程系; 上海200030; 国网太仓市供电公司; 江苏太仓215400
介质损耗   气隙   局部放电   半导电化   simulink  

摘要:针对现有理论解释在定量分析主变套管介损异常案例时存在的不足,提出了一种新的基于气隙放电的等效模型,经仿真验证,该模型能够合理解释套管介损增大而电容量几乎不变的现象。通过改变模型参数,指出测试结果仅取决于气隙放电起始电压与放电熄灭电压的组合,且放电起始电压越高,套管的介损值与电容量相对于正常情况下的变化越明显。

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