首页 期刊 计算机与数字工程杂志 2019年第01期
计算机与数字工程

计算机与数字工程杂志 统计源期刊

Computer & Digital Engineering

杂志简介：《计算机与数字工程》杂志经新闻出版总署批准，自1973年创刊，国内刊号为42-1372/TP，是一本综合性较强的计算机期刊。该刊是一份月刊，致力于发表计算机领域的高质量原创研究成果、综述及快报。主要栏目：算法与分析、系统结构、信息网络安全、图像处理、工程实践

主管单位：中国船舶重工集团公司
主办单位：中船重工集团公司七院第七0九研究所
国际刊号：1672-9722
国内刊号：42-1372/TP
全年订价：¥ 436.80
创刊时间：1973
所属类别：计算机类
发行周期：月刊
发行地区：湖北
出版语言：中文
预计审稿时间：1个月内
综合影响因子：0.64
复合影响因子：0.35
总发文量：6939
总被引量：18634
H指数：30
引用半衰期：3.7485
立即指数：0.0205
期刊他引率：0.9468
平均引文率：5.8082
发表咨询 加急见刊 立即订阅
期刊首页
分期目录

  • 1mV~10mV直流电压的高准确度校准

    作者：翟玉卫; 程晓辉; 丁立强 刊期：2019年第01期

    针对1mV~10mV直流电压溯源方面存在的问题,提出采用恒流源、标准取样电阻和标准直流电压表的方法对较小的直流电压进行校准。采用5720A输出稳定的直流电流,用742A作为取样电阻,用8508A作为标准直流电压表,根据欧姆定律进行校准工作,并给出了消除或减小校准过程中存在的各种影响量的途径。对数字多用表8508A进行校准,分别评定了1mV、10mV点的测量...

  • 二氧化硅膜厚标准样片的研制与评价

    作者：赵琳; 梁法国; 韩志国; 李锁印; 付少辉 刊期：2019年第01期

    介绍了二氧化硅膜厚标准样片的用途及国内研制样片的情况,设计了二氧化硅膜厚样片的制作版图,分别采用热氧化和等离子化学气相淀积(PECVD)工艺制备了厚度为10nm~1000nm的硅上二氧化硅膜厚样片。以10nm、1000nm为例对样片的薄膜厚度、均匀性、稳定性进行了考核。结果表明,热氧化工艺制备的膜厚样片质量优于PECVD工艺制备的膜厚样片,研制的膜厚样...

  • 基于LabVIEW的高速加载板自动校准技术研究

    作者：孙崇钧; 张明虎 刊期：2019年第01期

    加载板是集成电路测试系统进行测试的必要组部分,当传输速率高于200Mbps或者信号上升时间小于1ns时,加载板的性能对信号完整性产生较大的影响,需要定期对加载板进行校准。论文提出了基于LabVIEW的高速加载板自动校准方法和具体实施方案。

  • 基于标准样片的集成电路测试系统校准装置研究

    作者：肖莹; 胡勇; 周厚平 刊期：2019年第01期

    标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,而基于标准样片的集成电路测试系统校准装置使得标准样片的量值可以准确可靠地传递到测试系统每个通道上,满足测试系统全通道覆盖的校准需求。论文提出了一种基于标准样片的集成电路测试系统校准装置架构设计方法,该设计方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准过程的自动...

  • 高精度微波夹具设计中的TRL校准技术

    作者：任翔; 张一治; 李硕; 李静 刊期：2019年第01期

    TRL校准是一种非常精确的校准方式,尤其适用于非标准接口的微波器件S参数的精确测试。论文探讨了有关TRL校准技术,从TRL校准技术理论模型分析,到设计TRL校准件的要求,到设计TRL校准件时需考虑的因素,对TRL校准技术做了较全面的介绍。

  • 集成电路延迟时间测量结果的不确定度评定

    作者：李晓红; 邓永芳; 张丽巍; 陈敏; 李真 刊期：2019年第01期

    采用GB/T17574-1998《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》[1]第Ⅳ篇测试方法第3节动态测试的测试方法分别对某运算放大器、开关驱动器和标准模块的延迟时间进行测试,并按JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》[2]、CNAS-CL07:2011《测量不确定度的要求》[3]、CNAS-GL08:2006《电器领域不确定度的评估指南》[4]的要求,对测量结果进行...

  • 基于片上Loopback的FPGA DDR模块串行测试方法

    作者：王贺; 张大宇; 汪悦; 张松 刊期：2019年第01期

    文章分析了Virtex FPGA中DDR模块的特点,设计了基于Loopback方法的DDR模块测试电路结构。该结构采用FPGA IOBUF构建了片上测试环路,实现了IDDR与ODDR的串行组合测试。与传统并行测试方法相比,串行测试仅需使用12路测试通道,同时将配置次数从16次减少到6次,可显著减少DDR模块的测试时间。

  • DDR器件关键测试向量的设计

    作者：石雪梅; 刘敦伟; 顾颖; 李盛杰 刊期：2019年第01期

    双倍数据速率(Double Data Rate,DDR)DRAM由于其速度快、容量大,而且价格便宜,在各种需求大量数据缓存的场合得到了广泛使用。论文介绍了DDR器件的基本工作原理及需重点关注的操作过程,通过建立合适的时序关系,基于ATE设计测试向量,实现DDR器件的功能测试。

  • MEMS惯性器件典型参数测试技术研究

    作者：陈波; 刘路扬; 吕兵; 杨景阳; 吕乐 刊期：2019年第01期

    论文介绍了MEMS的概念及典型MEMS器件的基本工作原理,选取了某款MEMS陀螺器件作为测试研究对象,分析了其测试参数,按照参数的特性对各个参数进行了分类,并研究了器件的典型参数性的测试方法。此外,论文提出了一种基于NI的PXI的MEMS陀螺器件测试平台,借助双轴速率转台、振动台以及温箱搭建了MEMS陀螺器件测试系统的硬件平台,对硬件平台的硬件选型...

  • 高速模数转换器RHF1201测试技术研究

    作者：许伟达; 徐导进; 刘伟; 潘潇雨 刊期：2019年第01期

    论文介绍高速模数转换器RHF1201特性,在测试项目动态参数开发过程如何选择合适的测试资源,设计适合器件测试的接口电路,减少噪声的引入满足动态参数的测试。

  • 宇航用高速模数转换器B9243的测试与评估

    作者：潘潇雨; 许伟达; 刘伟 刊期：2019年第01期

    介绍了宇航用高速AD转换器B9243的应用、测试原理、测试方法、测试线路设计等方面,重点介绍了使用大规模混合信号测试系统MicroFLEX对B9243的静态参数和动态参数进行测试的方法,以及如何在测试过程中进行噪声的抑制以提高动态参数的测试准确度。

  • 广域ADC误差修正测试方法研究

    作者：杨景阳; 刘路扬; 吕兵 刊期：2019年第01期

    针对广域ADC集成电路测试精度不高的问题,设计了广域ADC测试的电路布局,分析了因电路的引入而产生的系统误差源,研究了基于系统误差的误差修正补偿算法,提高了广域ADC集成电路的测试精度。由系统模拟源通过电路同时向广域ADC和高精度ADC输入斜波信号,对输出数字码进行误差修正处理,消除系统误差。并在大规模数模混合测试设备Catalys...

  • 基于J750Ex的鼠标控制器测试技术研究

    作者：王庆 刊期：2019年第01期

    鼠标控制器是一种应用十分广泛的集成电路。论文以EM84510芯片为例,通过分析鼠标控制器的结构和应用,研究了在J750Ex集成电路自动测试系统上测试鼠标控制器的方法。通过分析J750Ex测试系统的标志位和跳转指令,提出了在J750Ex上进行测试向量同步匹配的方法和具体实施方案。针对鼠标控制器测试耗时长的问题,充分利用芯片的IO管脚和测试系统的测试...

  • 浪涌抑制器瞬态尖峰电压测试后失效原因分析

    作者：袁文; 张文辉 刊期：2019年第01期

    论文根据浪涌抑制器在瞬态尖峰电压测试后失效的现象,对器件失效部位进行故障定位并对器件内部电路图进行拍照分析,分析研究电路原理以及相关测试标准,建立了故障树,逐一分析排除,得出了器件在瞬态尖峰电压测试后失效的原因,并进行了故障复现,提出了预防解决措施。

  • 滤波器测试中夹具的影响及一种高精度通用测试夹具的设计

    作者：张一治; 任翔; 李静; 程婷婷; 马帅帅; 常慧娟 刊期：2019年第01期

    论文简述了滤波器的主要技术指标以及利用矢量网络分析仪测试的基本原理,通过一种简易测试夹具对两种中心频率不同的滤波器进行了检测,分析了夹具对滤波器的测试影响,并提出了一种高精度通用测试夹具的设计方案。

相关文章

计算化学论文 计算器总结 计算教学论文 计算方法论文 计算机word论文 计算机与科学技术学科评估 计算机与网络安全 计算机与网络论文 计算机与设计论文 计算机专业专业论文 计算机专业学术论文 计算机专业导论论文
相关期刊