摘要：针对某引俄指控电路板中大量采用集成度很高的芯片,传统的测试方法无法进行测试与诊断的问题,运用边界扫描技术开发高集成度、高性能的PCB板的TPS,详细阐述了该系统中典型电路板的测试分析。
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