摘要：面对当今复杂SoC器件,开发ATE测试解决方案变成一项越来越困难的任务。测试要求已经从器件参数测试、逻辑功能测试转移到了包括调制、协议测试等在内的系统级测试,从而增加测试支出成本和程序开发时间。讨论通过基于ATE测试系统Smart RDI软件编程的测试方法生成测试矢量,通过构建详细的ATE与器件接口间的协议规则,实现SoC接口协议测试或者通过寄存器设置进行特定模式测试的目的,不需要为数字协议开发所有仿真向量,减少设计到测试创建,转换,传输和下载协议规则的中间阶段的大量时间,灵活地对协议编程实现待测器件设置和测量。

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