摘要：提出了一种基于投影寻踪技术的模拟电路故障诊断方法。本文利用投影寻踪技术对高维测量数据进行降维,在基于遗传算法思想的基础上,采用LDA投影指标,探寻数据的最佳低维投影方向.并对所提出的故障诊断系统进行了仿真验证.实验结果表明,该方法可以用于探寻模拟电路内部所蕴含的低维特征,实现故障模式的成功聚类。

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