摘要：针对测前模拟法难以应用于较大型电路的问题,提出了通过对下层仿真输出信号采用聚类算法进行分类作为上层仿真输入的方法,解决了由于元器件数目增加造成的工作量剧增的问题,最后对获取知识的结构和诊断过程进行描述.实验结果证实该方法可行.
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