首页 期刊 国外电子测量技术 基于STM32的电能质量检测技术研究 【正文】

基于STM32的电能质量检测技术研究

作者:郑一维 李长俊 吴讯驰 陈尚松 桂林电子科技大学TCR研究室 桂林541004 华南理工大学自动化科学与工程学院 广州510641
电能质量检测   内嵌式智能仪器   stm32微处理器  

摘要:目前国内外已有多种检测电能质量的方法,介绍了一种基于ARM Cortex-M3内核的32位处理器STM32内嵌式智能仪器模式设计的方案。利用STM32内置A/D以及ATT7022B芯片对信号进行多通道采集,对各电能参数进行检测和分析。运用处理器自带的SD卡和USB接口对所测大量数据进行存储和传输,并通过彩色液晶屏实时显示所测数据,检测设备间通过2.4 G无线通信模块进行数据交换。实际运行表明该设备操作简单、技术指标完全符合国家相关标准,具有较好的应用、推广价值。

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