首页 期刊 工程热物理学报 基于量子点测量LED芯片表面温度的实验研究 【正文】

基于量子点测量LED芯片表面温度的实验研究

作者:舒伟程; 胡润; 谢斌; 余兴建; 罗小兵 华中科技大学能源与动力工程学院; 武汉430074
结温   温度依赖性  

摘要:本文围绕CdSe/ZnS量子点发光光谱与温度的依赖关系,对LED芯片表面温度进行实验研究。CdSe/ZnS量子点作为温度传感器对GaN LED芯片表面温度进行测量,量子点的掺入导致光谱中引入量子点发射谱,测得不同温度下的光致发光谱,通过红外热像仪对LED芯片表面温度进行定标,就可以获得LED芯片表面温度和量子点光谱峰值波长的曲线,最后利用该方法测得LED芯片在不同电流下和不同通电时间的表面温度。实验结果表明在25-85℃温度范围内,CdSe/ZnS量子点温度灵敏度为0.11nm/℃,测温精度为±3℃。

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