摘要：针对目前磁瓦内部缺陷采用人工音频识别存在的问题,使用双谱分析已知内部缺陷情况的磁瓦在跌落撞击试验中产生的音频信号,其结果表明内部缺陷会影响双谱的峰值分布。根据这个规律,提出一种归一化双谱3切片分析方法用于磁瓦内部缺陷的检测。该方法首先提取归一化双谱上3个特定方向的切片;其次按照峰值分布与内部缺陷的映射关系,将每个切片划分成若干频率区域,并对各区域进行分类;然后通过对不同种类的区域最大峰值比较与计算,建立识别内部缺陷的阈值。最后,验证试验对方法的有效性进行了评估,取得了97%以上的识别正确率。试验结果表明,双谱分析在磁瓦内部缺陷音频检测中具有较好的实用性。

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