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电子封装与焊接质量的超声显微检测技术

作者:刘中柱 徐春广 郭祥辉 赵新玉 杨柳 北京理工大学先进加工技术国防重点学科实验室 北京100081 中北大学机械工程与自动化学院 太原030051
超声显微镜   全波采集   电子封装   无损检测  

摘要:电子封装内部缺陷的尺度微小,引脚焊接的间距也很小,传统检测方法很难对其进行检测。超声显微技术利用聚焦高频超声来进行检测,能对试样表面、亚表面及其内部一定深度内的细微结构进行显微成像,可用来检测电子封装和评估焊接质量。文章采用高速数据采集卡、高频超声聚焦换能器、宽频脉冲收发仪与高精度运动系统,研发了一套超声显微镜系统。该系统具有较高的精度,功能基本完善,造价相对低廉,能进行全时域波形采集与存储。实验结果表明该系统能检测出电子封装内的微细缺陷,可用来评估引脚的焊接质量。

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