首页 期刊 电子器件 基于STM32的全相位FFT相位差测量系统 【正文】

基于STM32的全相位FFT相位差测量系统

作者:邱良丰 刘敬彪 于海滨 杭州电子科技大学电子信息学院 杭州310018
相位测量   stm32   全相位fft   仿真测试  

摘要:针对军用和民用工程领域信号相位差测量的需要,基于全相位测量理论,使用ARM公司的高性能32Bit CortexM32内核处理器STM32F103,设计并制作了一个低成本,结构简单,处理速度快而有效的相位差测量系统,通过采样了127个点,处理后做64个点的FFT,实现了信号相位差的测量。测试结果表明有效分辨精度为1度。

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