首页 期刊 电测与仪表 基于改进的Sobel-Zernike矩法亚像素厚度测量 【正文】

基于改进的Sobel-Zernike矩法亚像素厚度测量

作者:杨前华; 姚励; 赵力 南京信息职业技术学院通信学院; 南京210023; 东南大学信息科学与工程学院; 南京210018
亚像素   定位   厚度测量  

摘要:针对 Zernike矩亚像素定位算法精度较高,但算法运算时间较长的问题,提出基于 Sobel的改进 Zemike矩亚像素定位法,该算法通过Sobel检测初步定位护套和绝缘材料的边缘,缩小 Zermke矩的计算范围,使得在精度基本不变的情况下,缩短了计算时间,提高了速度,并通过估计边缘点正态分布的均值将轮廓像素宽度缩小在单像素上,提高了算法的精度。通过将该算法与Zemike矩法以及插值法在精度和速度上的对比实验,验证了该算法的优越性,具有应用价值。

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