首页 期刊 常州大学学报·自然科学版 基于CPLD技术的耐压测试系统研究 【正文】

基于CPLD技术的耐压测试系统研究

作者:马正华 刘培媛 周炯如 常州大学信息科学与工程学院 江苏常州213164
可编程复杂逻辑器件   耐压测试  

摘要:介绍了基于可编程复杂逻辑器件(CPLD)技术的耐压测试仪的设计方案。该测试系统用于对电磁线绕制的产品进行绝缘耐压测试,测试波形数据通过CPLD和高速A/D转换器件进行采集转换,并交由CPU对数据进行处理。该设备可对单一产品测试和生产线上的流水检测,准确、可靠,可广泛用于电器设备制造业等各类耐压测试场合。

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