首页 期刊 创新科技 基于SAK-C167单片机的智能IC测试仪设计 【正文】

基于SAK-C167单片机的智能IC测试仪设计

作者:陈琦; 丁丽娜 哈尔滨光宇电气自动化公司; 黑龙江哈尔滨150078; 滨绥化学院; 黑龙江哈尔滨152061
c167   测试仪   单片机  

摘要:针对一些IC 芯片类电子元件进行检验困难的问题,如RAM、ROM、FLASH 或单片机等芯片,设计了智能IC 检测仪器,此测试仪基于C167 单片机,通过IO 扩展接口和被测芯片测试板连接,对被测芯片进行功能性验证,并通过液晶显示出结果,也可以由CAN 接口将结果传递给其他设备或上位机.经实际验证,此测试仪具有简单、可靠的特点,降低了IC测试的复杂性和测试成本.

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