摘要：提出一种基于激光聚变反应的电子系统可靠性试验方法。利用神光高功率激光装置在实验室环境下产生的极端辐射环境,能有效模拟电子系统所处的恶劣工作环境,检测其运行的可靠性,研究辐射对电子系统造成的损害。基于激光聚变反应的电子系统可靠性试验,具有极端辐射环境模拟能力强、实验设计灵活、配套测量技术发展成熟的技术优势,能提供在强电磁脉冲辐射、X射线辐射、中子辐射、带电粒子以及高速碎片等恶劣环境下的电子系统可靠性测试,可作为航天和航空电子系统研究的地面可靠性试验手段。

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