首页 期刊 中国高新科技 计算机常用接口的ESD损坏机理及防护 【正文】

计算机常用接口的ESD损坏机理及防护

作者:孙冬娇; 赵静 南京信息工程大学电子与信息工程学院
esd模型   串口   光电隔离   tvs  

摘要:静电放电对电子器件的损害时常发生且不易察觉,实践中给设备及通讯带来不便与误导。根据人体及机器ESD模型,探讨静电损害的机理,结合应用常见问题,提出解决方案,并给出具体的电路(光电隔离、TVS防护)设计与分析。

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