摘要：支柱绝缘子在地形或单向风等因素的影响下易累积形成扇形不均匀污秽,背风侧通常较迎风侧受污染更加严重。对支柱瓷绝缘子进行不同扇形不均匀污染条件下的人工污秽交流闪络试验,讨论扇形不均匀污染对闪络电压、闪络过程、背风侧污层电导率和绝缘子表面电导的影响。试验结果表明,支柱绝缘子在这种不均匀污染下的交流闪络性能与均匀污染下有很大差异,不均匀污秽下的支柱绝缘子闪络电压很大程度上受附盐密度(salt deposit density,SDD)、迎风侧与背风侧的SDD比值(Y/B)以及背风侧面积占总面积之比k的影响。Y/B从1/1降至1/8时,闪络强度下降约16%,k从25%上升至45%时,闪络电压小幅上升;SDD与Uf之间的关系仍可以用负指数函数表示,且扇形非均匀污染对其影响主要在于改变比例系数a,而非指数n。为了进一步分析,还建立一种不均匀污秽下的绝缘子表面污层电导计算模型,并计算得到不同Y/B和k时不均匀污秽与均匀污秽下的表面污层电导之比?的理论值,结果与试验数据规律吻合。这从理论上证明了扇形不均匀污染会导致绝缘子的表面污层电导变大,从而促进电弧传播和闪络过程,最终降低闪络电压。

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