首页 期刊 现代制造工程 平板探测器坏像素校正方法研究 【正文】

平板探测器坏像素校正方法研究

作者:张丰收; 崔凤奎; 王晓强; 张定华 河南科技大学机电工程学院; 洛阳; 471003; 西北工业大学; 西安; 710072
平板探测器   坏像素   伪影   校正  

摘要:讨论X射线系统中平板探测器的坏像素产生原因并归纳分类.研究坏像素的探测、校正矩阵的生成和对坏像素的校正方法.通过仿真模型对所提出的校正算法进行了验证,通过比较重建图像的信噪比对该算法的效果进行了评估.研究结果表明,平板探测器的制造缺陷等固有噪声源将在重建图像中被增强,并表现为大量的条纹和环形伪影;通过校正,重建图像中的上述伪影明显减少,图像质量得到改善,且系统的低对比度探测能力也得到相应提高.

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