摘要：研究腔靶辐射温度和X光耦合效率与靶结构及激光辐照条件的依赖关系。利用神光-Ⅱ基频光(波长1．053μm，能量3～5kJ／8束，脉宽0．6～0．9ns)辐照金腔靶。采用软X光能谱仪及平响应探测器分别测量腔靶诊断口辐射X光功率谱及其能量角分布。同时，利用五针孔时、空分辨成像技术对腔靶诊断口发射软X光进行实验观测，给出辐射温度推算中需要的等效诊断口面积修正因子。在北京同步辐射软X光标定站，对上述诊断用软X光探测元器件进行了全谱范围(0．05～1．5kev)的绝对标定，以提高X光辐射功率和黑腔辐射温度的诊断精度．

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