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机电组件

除芯   裂纹形成   电子质量   银基触头   张海龙  

摘要:<正> 0502806电压缓冲器和零位电阻器的反向嵌套密勒补偿=Re-versed Nested Miller Compensation With Voltage Bufferand Nulling Resistor[刊,英]/K.-P.Ho,C,-F.Chan//IEEE Journal of Solid-State Circuits.—2003,38(10).—1735-1738(E)0502807银基触头材料电弧侵蚀特性及裂纹形成机理分析[刊,中]/郭凤仪//中国电机工程学报.—2004,24(9).—209-217(E)0502808去耦电容在高速 PCB 中的应用[刊,中]/张海龙//电子质量.—2004,(9).—51-53,55(D)高速 PCB 设计中,合理地使用去耦电容在消除芯

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