首页 期刊 中国激光 表面热透镜与光热失调技术测量光学薄膜吸收的灵敏度比较 【正文】

表面热透镜与光热失调技术测量光学薄膜吸收的灵敏度比较

作者:郝宏刚 李斌成 刘明强 中国科学院光电技术研究所 四川成都610209 中国科学院研究生院 北京100039
测最   微弱吸收   表面热透镜   光热失调  

摘要:在理论分析优化的基础上,以BK7玻璃和石英为基底的高反射光学薄膜为样品,采用强度调制的连续激光作为激励光源,实验研究了表面热透镜(STL)技术和光热失调(PTDT)技术的信号幅值随激励光调制频率的变化关系,分析比较了这两种方法在测量光学薄膜吸收损耗方面的灵敏度。实验表明,光热失调技术具有构型优化简单、实验操作难度低和测量空间分辨率高等优点,对于具有较高反射率温度系数的高反射膜等样品,采用光热失调技术有利于提高薄膜吸收损耗测量的灵敏度。实验结果与理论分析基本一致。

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