摘要:KLA—Tencor公司日前宣布,推出采用Nano—Poin/TM技术的2910系列光学晶阋缺陷检测平台和新型eDRTM-7100电子柬品圆缺陷检查系统。为了满足集成电路制造商在先进设备上更快追踪缺陷的需要,这两款系统兼具快速和无缝接轨的优势,能够迅速发现和识别影响成品率和可靠性的缺陷。
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期刊级别:部级期刊
发行周期:月刊
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