首页 期刊 声学技术 界面层对高强度聚焦超声所致焦斑的影响 【正文】

界面层对高强度聚焦超声所致焦斑的影响

作者:李全义 卢涛 秦艳 李发琪 深圳武警边防医院 广东深圳518000 重庆医科大学生物医学工程系重庆医科大学医学超声工程研究所 重庆市-科技部共建医学超声工程重点实验室 重庆400016
纳米磁性颗粒   界面层   焦斑  

摘要:用纳米铁磁性颗粒胶合体制作界面层,用同一剂量高强度聚焦超声(HIFU)在该界面层下方不同深度定点辐照。结果显示:焦点上缘与声学界面重合时,HIFU所致焦斑/损伤点(lesion)的体积增大,说明声学界面能够提高治疗效率;当焦点距离界面层10mm时,焦点处HIFU所致焦斑/损伤点的大小和形态与对照组相似,而界面处出现另一较大的损伤点,此时界面对HIFU治疗的的安全性产生重大的影响;当焦点距离声波界面30mm时,焦点处HIFU所致焦斑/损伤点的大小和形态与对照组相似。随着界面层厚度的减小,治疗安全区域不断扩大,增效作用降低。

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