根据最新信息《Journal Of Micro-nanolithography Mems And Moems》期刊在JCR分区中的排名如下：
按JIF指标学科分区学科为ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名187 / 275，百分位32.2%；MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名255 / 342，百分位25.6%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收录子集：SCIE，位于Q4区，排名91 / 107，百分位15.4%；OPTICS，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名68 / 100，百分位32.5%；。
投稿咨询| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 187 / 275 |
32.2% |
| 学科：MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | Q3 | 255 / 342 |
25.6% |
| 学科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 91 / 107 |
15.4% |
| 学科：OPTICS | SCIE | Q3 | 68 / 100 |
32.5% |
这表明该刊在工程：电子与电气领域具有较高的学术影响力和认可度。此外，该刊创刊时间：2007年，出版周期：Quarterly、出版商：SPIE以及收录情况等信息也为其学术影响力提供了有力支持。
影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
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