根据最新信息《Quantitative Infrared Thermography Journal》期刊在JCR分区中的排名如下：
按JIF指标学科分区学科为INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收录子集：SCIE，位于Q1区，排名17 / 76，百分位78.3%；MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING，收录子集：SCIE，位于Q1区，排名6 / 38，百分位85.5%；PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名56 / 179，百分位69%；按JCI指标学科分区在学科为INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收录子集：SCIE，位于Q1区，排名18 / 76，百分位76.97%MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING，收录子集：SCIE，位于Q1区，排名7 / 38，百分位82.89%PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名45 / 179，百分位75.14%。
投稿咨询| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 17 / 76 |
78.3% |
| 学科：MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING | SCIE | Q1 | 6 / 38 |
85.5% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 56 / 179 |
69% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 18 / 76 |
76.97% |
| 学科：MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING | SCIE | Q1 | 7 / 38 |
82.89% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 45 / 179 |
75.14% |
这表明该刊在材料科学：表征与测试领域具有较高的学术影响力和认可度。此外，该刊创刊时间：2004年，影响因子：3.7，出版周期：Semiannual、出版商：Taylor and Francis Ltd.以及收录情况等信息也为其学术影响力提供了有力支持。
影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
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