根据最新信息《Journal Of X-ray Science And Technology》期刊在JCR分区中的排名如下：
按JIF指标学科分区学科为INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名44 / 76，百分位42.8%；OPTICS，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名73 / 119，百分位39.1%；PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q3区，排名125 / 179，百分位30.4%；按JCI指标学科分区在学科为INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名35 / 76，百分位54.61%OPTICS，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名59 / 120，百分位51.25%PHYSICS, APPLIED，收录子集：SCIE，位于Q2区，排名77 / 179，百分位57.26%。
投稿咨询| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q3 | 44 / 76 |
42.8% |
| 学科：OPTICS | SCIE | Q3 | 73 / 119 |
39.1% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 125 / 179 |
30.4% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 35 / 76 |
54.61% |
| 学科：OPTICS | SCIE | Q2 | 59 / 120 |
51.25% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 77 / 179 |
57.26% |
这表明该刊在仪器仪表领域具有较高的学术影响力和认可度。此外，该刊创刊时间：1989年，影响因子：1.7，出版周期：Quarterly、出版商：IOS Press以及收录情况等信息也为其学术影响力提供了有力支持。
影响因子：是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据，现已成为国际上通用的期刊评价指标，不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标，而且也是测度期刊的学术水平，乃至论文质量的重要指标。
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