摘要：文中介绍了半导体激光二极管(LD)寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此设计了LD高温加速寿命自动测试系统.系统通过采集恒流工作LD的平均输出光功率随时间变化的信息,绘制LD的老化曲线,即恒流条件下的P-t曲线,或通过采集恒功工作LD的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I-t曲线,然后推断LD正常条件下的使用寿命.

注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社