摘要：微波芯片在微波领域被广泛应用,为了准确获得其射频参数,需要对其进行测试;而芯片端口一般是非同轴结构,不能通过常用测试仪器（如矢网）直接测量。通过电磁仿真和结构分析,设计了一种测试夹具,该夹具采用同轴转微带结构方案;并制作了相应的校准件,通过TRL校准可将夹具引入的误差消除。经验证,所设计夹具可拆卸性强、重复性好,能完成后续的校准和测试。

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