首页 期刊 集成电路应用 超高数值孔径镜头面临的挑战 【正文】

超高数值孔径镜头面临的挑战

作者:Holly; Magoon; Raluca; Popescu; Tomoyuki; Matsuyama
高数值孔径   镜头   光刻机   套刻精度   浸没式  

摘要:近来,关于浸没式光刻的讨论很多,不过它们大多集中在缺陷率和套刻精度上,而很少涉及到浸没式技术怎样使光刻机供应商具备设计与制造超高数值孔径镜头的能力,而这曾被认为是不可能实现的。尽管理论上折射式镜头能够扩展到很高的NA,但是由于受到材料和光刻机尺寸的限制,

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