首页 期刊 集成电路应用 超高数值孔径浸没式光刻面临的挑战:偏振效应 【正文】

超高数值孔径浸没式光刻面临的挑战:偏振效应

高数值孔径   浸没式   偏振效应   刻   纳米技术  

摘要:浸没式光刻要实现32纳米技术乃至进一步向下延伸,在高折射率液体,光学镜头以及光刻胶等关键技术领域需要要不断取得突破性的进展。为了得到更高的分辨率,超高数值孔径浸没式光刻技术势在必行,由此而产生的光学偏振问题会日益突出,现在光刻领域的专家已经开始着手解决这个问题。

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